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菲希爾臺(tái)式X熒光射線測(cè)厚儀XDAL237信息
點(diǎn)擊次數(shù)：31 更新時(shí)間：2025-12-23 打印本頁(yè)面 返回
菲希爾臺(tái)式X熒光射線測(cè)厚儀XDAL237
菲希爾XDAL237是一款高性能通用型能量色散X熒光測(cè)厚儀，專(zhuān)為超薄涂層測(cè)量與自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)計(jì)，廣泛應(yīng)用于質(zhì)量保證與生產(chǎn)監(jiān)控領(lǐng)域。儀器搭載高精度可編程XY工作臺(tái)與電動(dòng)Z軸，保護(hù)罩開(kāi)啟時(shí)工作臺(tái)自動(dòng)移至裝載位，配合激光定位與高分辨率彩色攝像頭，可實(shí)現(xiàn)測(cè)量點(diǎn)的快速對(duì)準(zhǔn)與精準(zhǔn)定位，測(cè)量點(diǎn)直徑最小可達(dá)0.15mm。
核心優(yōu)勢(shì)在于配備硅針二極管、硅漂移探測(cè)器等多種探測(cè)選項(xiàng)，搭配4種可切換準(zhǔn)直器與3種初級(jí)濾波器，能為不同測(cè)量需求創(chuàng)造理想激發(fā)條件，可精準(zhǔn)測(cè)量≤0.05μm的超薄涂層，同時(shí)支持固體、液體樣品及復(fù)雜多層涂層系統(tǒng)分析，還能測(cè)定焊料中的鉛含量。借助菲希爾基礎(chǔ)參數(shù)法，無(wú)需校準(zhǔn)即可完成測(cè)量，顯著降低操作成本。儀器機(jī)身設(shè)有開(kāi)槽設(shè)計(jì)，可適配大型印刷電路板等超大樣品測(cè)量，通過(guò)WinFTM®軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)傳輸、分析與導(dǎo)出，符合DIN ISO 3497、ASTM B 568及德國(guó)R?V法規(guī)要求，是電子半導(dǎo)體行業(yè)功能性涂層檢測(cè)的理想設(shè)備。
